鍍層厚度分析儀的測量方法

                                        鍍層厚度分析儀的測量方法有什么?為了讓大家更好的理解今天善時儀器的小編給大家整理了下述內容,希望能給大家帶來幫助,那么接下來一起看下吧。

                                       

                                        鍍層厚度分析儀的測量方法有很多種,比方說:楔切法,光截法,厚度差測量法,電解法,稱重法,β射線反向散射法,X射線熒光法,電容法、磁性測量法以及渦流測量法等。這類方法中前五種是有損檢測,測量手段也是相對比較繁瑣的,并且速度慢,適合使適用于抽樣檢驗。

                                       

                                        X射線與β射線法是無接觸無損測量,測量范圍比較小,X射線法可以測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層以及底材原子序號大于三的鍍層測量。電容法只有在薄導電體的絕緣覆層測厚的時候才進行使用。

                                       

                                        目前隨著技術的不斷進步,尤其是近幾年來引入微機技術之后,X射線鍍層厚度分析儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向更進了一步。測量的分辨率能夠達到零點一微米,精度可以達到到百分之一,有了很大幅度的提升。此設備使用范圍比較廣范,量程寬、操作簡單并且價格便宜,是工業以及科研使用Z廣泛的測厚儀器。

                                       

                                        鍍層厚度分析儀的測量方法今天深圳市善時儀器有限公司的小編就介紹到這里,想要了解更多此產品的相關知識,可以撥打熱線電話咨詢,期待您的來電。

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                                      創建時間:2021-03-30 09:27
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