首頁    鍍層測厚儀    iEDX-150T鍍層測厚儀
                                      150T
                                      創建時間:2018-05-21 17:00
                                      瀏覽量:0

                                      iEDX-150T鍍層測厚儀

                                      ISP iEDX-150T鍍層測厚儀;
                                      采用非真空樣品腔;
                                      專業用于PCB電鍍鍍層分析、PCB鍍層厚度測量及金屬電鍍鍍層分析;
                                      采用多種光譜擬合分析處理技術;
                                      可增加合金成份分析及RoHS功能。

                                      善時儀器

                                      手  機: 18589082047

                                      電     話 :  0755-23347785

                                      傳  真: 0755-27205042

                                      郵    箱: sales@sense.cc

                                      地  址: 深圳市寶安區新橋街道沙企社區中心路18號高盛大廈12樓

                                       

                                      應用領域

                                       iEDX-150T鍍層測厚儀應用于金屬電鍍鍍層分析領域;

                                       

                                      技術指標

                                      多鍍層分析,1~5層;

                                      測試精度:0.001 μm;

                                      元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);

                                      測量時間:10~30秒;

                                      SDD探測器,能量分辨率為125±5eV;

                                      探測器Be窗0.5mil(12.7μm);

                                      微焦X射線管50kV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶);

                                      6個準直器及多個濾光片自動切換;

                                       XYZ三維移動平臺,MAX荷載為5公斤;

                                       高清CCD攝像頭(200萬像素),準確監控位置;

                                      多變量非線性去卷積曲線擬合;

                                      高性能FP/MLSQ分析;

                                      儀器尺寸:618×525×490mm;

                                      樣品臺尺寸:250×220mm;

                                      樣品臺移動范圍:前后左右各80mm、高度90mm。

                                       

                                      圖譜界面

                                      軟件支持無標樣分析;

                                      寬大分析平臺和樣品腔;

                                      集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面;

                                      采用多種光譜擬合分析處理技術;

                                      鍍層測厚分析精度可達到0.001μm。

                                       

                                      分析報告結果

                                      直接打印分析報告;
                                      報告可轉換為PDF,EXCEL格式。

                                       

                                      樣品分析圖譜:

                                       

                                      150T樣品分析圖譜

                                       

                                      測試結果界面:

                                       

                                      150T測試結果

                                       

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